TEO2晶体
TeO2 晶体加工指标
参数 | 规格 |
尺寸公差: | (W ± 0.1) x (H ± 0.1) x (L + 0.2/-0.1) |
面型: | < L/8 @ 633nm |
表面质量 (S/D): | 镀前10/5, 镀后 20/10 |
并行度: | < 20 弧秒 |
垂直度: | < 5 弧分 |
波前失真: | < L/8 @ 632.8nm |
通光孔径: | 中心 95% |
倒角(宽): | < 0.15 mm x 45 度 |
镀膜: | 如果需要低反射率,则应考虑使用抗反射镀膜。 |
晶体生产线
磨削
抛光
抛光
镀膜
分光光度计
检测
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