Piastra d'onda
Capacità di produzione di Waveplates
Parametro | Ordine multiplo | Ordine zero | Vero ordine | Acromatico | Doppia lunghezza d'onda | |||
Cementato | Contatto ottico | Air-Spaziato | Cementato | Separare | ||||
Materiale: | Cristallo di quarzo | Cristallo di quarzo | Cristallo di quarzo | Cristallo di quarzo | Quarzo +H-K9L | Cristallo di quarzo | Quarzo +MgF2 | Cristallo di quarzo |
Diametro (mm): | +0,0/-0,2 mm | +0,0/-0,2 mm | +0,0/-0,2 mm | +0,0/-0,2 mm | +0,0/-0,2 mm | +0,0/-0,2 mm | +0,0/-0,2 mm | +0,0/-0,2 mm |
Qualità della superficie (S/D): | 20-10 | 20-10 | 20-10 | 20-10 | 20-10 | 20-10 | 20-10 | 20-10 |
Distorsione del fronte d'onda: | L/8 | L/8 | L/8 | L/8 | L/8 | L/4 | L/8 | L/8 |
Ritardo: | L/300 | L/300 | L/300 | L/300 | L/300 | L/300 | L/300 | L/300 |
Parallelismo: | 1 arco sec | 3 sec d'arco | 1 arco sec | 1 arco sec | 3 sec d'arco | 1 arco sec | 3 sec d'arco | 1 arco sec |
Lunghezza d'onda standard: | 266, 355, 532, 633,780,808,850,980,1064,1310,1480,1550nm | 980, 1064,1310, 1480, 1550nm | 465-650 nm 700-1000 nm 1200-1650 nm | 1030&515 nm; 1064&532 nm |
Linee di produzione di waveplate di CRYLIGHT
Lucidatura
Ispezione
Rivestimento Spettrofotometro
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